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        6. IGBT的開關(guān)時間說明詳細(xì)分析-IGBT及MOSFET的對比
          • 發(fā)布時間:2020-05-25 16:49:07
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          IGBT的開關(guān)時間說明詳細(xì)分析-IGBT及MOSFET的對比
          IGBT介紹
          IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor),絕緣柵雙極型晶體管,是由BJT(雙極型三極管)和MOS(絕緣柵型場效應(yīng)管)組成的復(fù)合全控型電壓驅(qū)動式功率半導(dǎo)體器件, 兼有MOSFET的高輸入阻抗和GTR的低導(dǎo)通壓降兩方面的優(yōu)點。GTR飽和壓降低,載流密度大,但驅(qū)動電流較大;MOSFET驅(qū)動功率很小,開關(guān)速度快,但導(dǎo)通壓降大,載流密度小。IGBT綜合了以上兩種器件的優(yōu)點,驅(qū)動功率小而飽和壓降低。非常適合應(yīng)用于直流電壓為600V及以上的變流系統(tǒng)如交流電機(jī)、變頻器、開關(guān)電源、照明電路、牽引傳動等領(lǐng)域。
          IGBT模塊是由IGBT(絕緣柵雙極型晶體管芯片)與FWD(續(xù)流二極管芯片)通過特定的電路橋接封裝而成的模塊化半導(dǎo)體產(chǎn)品;封裝后的IGBT模塊直接應(yīng)用于變頻器、UPS不間斷電源等設(shè)備上;
          IGBT的開關(guān)時間說明
          IGBT模塊具有節(jié)能、安裝維修方便、散熱穩(wěn)定等特點;當(dāng)前市場上銷售的多為此類模塊化產(chǎn)品,一般所說的IGBT也指IGBT模塊;隨著節(jié)能環(huán)保等理念的推進(jìn),此類產(chǎn)品在市場上將越來越多見;
          IGBT是能源變換與傳輸?shù)暮诵钠骷追Q電力電子裝置的“CPU”,作為國家戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè),在軌道交通、智能電網(wǎng)、航空航天、電動汽車與新能源裝備等領(lǐng)域應(yīng)用極廣。
          IGBT的開關(guān)時間說明詳解
          IGBT的開關(guān)時間說明,IGBT的開關(guān)過程主要是由柵極電壓VGE控制的,由于柵極和發(fā)射極之間存在著寄生電容艮,因此IGBT的開通與關(guān)斷就相當(dāng)于對CGE進(jìn)行充電與放電。假設(shè)IGBT初始狀態(tài)為關(guān)斷狀態(tài),即VGE為負(fù)壓VGC-,后級輸出為阻感性負(fù)載,帶有續(xù)流二極管。
          由于寄生參數(shù)以及負(fù)載特性的影響,IGBT的實際開通與關(guān)斷過程比較復(fù)雜,如圖1為IGBT的開通關(guān)斷過程示意圖,圖中柵極驅(qū)動波形較為理想化,集電極電流以及集電極—發(fā)虧射極電壓的波形大致上是實際波形,只有細(xì)節(jié)被理想化。
          IGBT的開關(guān)時間說明
          表1中列出了IGBT開關(guān)時間的定義,之后是對IGBT開關(guān)各個階段的具體介紹。
          IGBT的開關(guān)時間說明
          1. 開通時間ton
          開通時間還可以分為兩個部分:開通延遲時間td(on)與上升時間tr,在此時間內(nèi)IGBT主要工作在主動區(qū)域。
          當(dāng)柵極和發(fā)射極之向被加上一個階躍式的正向驅(qū)動電壓后,便對CGE開始充電,VGE開始上升,上升過程的時間常數(shù)由CGE和柵極驅(qū)動網(wǎng)路的電阻所決定,一旦’VGE達(dá)到開啟電壓VGE(th)后,集電極電流Ic則開始上升。從VGE上升至VGE(th)開始,到IC上升至負(fù)載電流IL的10%為止,這段時間被定義為開通延遲時間td(on)。
          此后,集電極電流Ic持續(xù)上升,到Ic上升至負(fù)載電流IL的90%的時候,這段時間稱為上升時間tr。開通延遲時間td(on)與上升時間tr之和被為開通時間ton。在整個開通時間內(nèi),可以看出電流逐漸上升而集電極—發(fā)射極之間的壓降仍然十分可觀,因此主要的開通損耗產(chǎn)生于這一時間內(nèi)。
          2. IGBT導(dǎo)通
          IGBT導(dǎo)通時,主要工作在飽和區(qū)域。
          IGBT開通后,集電極電流Ic仍然會繼續(xù)上彝,并產(chǎn)生一個開通電流峰值,這個峰值是由阻感性負(fù)載及續(xù)流二極管共同產(chǎn)生的,峰值電流過大可能會損耗IGBT。Ic在達(dá)到峰值之后會逐步下降至負(fù)載電流Ic的水平,與此同時,VCE也下降至飽和壓降水平,ICBT進(jìn)入相對穩(wěn)定的導(dǎo)通階段。在這個階段中的主要參數(shù)是由負(fù)載確定的通態(tài)電流IL以及一個較低的飽和壓降VCEsat,可以看出,工作在飽和區(qū)的IGBT的損耗并不是特別大。
          3. 關(guān)斷時間toff
          同開通時間ton一樣,關(guān)斷時間toff也可以分為兩段:關(guān)斷延遲時間td(off),以及下降時間tf。
          當(dāng)柵極和發(fā)射極之間的正向電壓被突然撤銷并同時被加上一個負(fù)壓后,VCE便開始下降。下降過程的時間常數(shù)仍然由輸入電容CGE和柵極驅(qū)動回路的電阻所決定。同時,VCE開始上升。但只要VCE小于VCC,則續(xù)流二極管處于截止?fàn)顟B(tài)且不能接續(xù)電流。所以,IGBT的集電極電流Ic在此期間并沒有明顯的下降。因此,從柵極—發(fā)射極電壓VCE降落到其開通值的90%開始,直到集電極電流下降至負(fù)載電流的90%為止;這一段時間被定義為關(guān)斷延遲時間td(off)。
          一旦上升的IGBT的集電極—發(fā)射極電壓超過工作電壓VCC時,續(xù)流二極管便處于正向偏置的狀態(tài)下,負(fù)載電流便可以換流至續(xù)流二極管,集電極電流也因此下降口從集電極電流IC由負(fù)載電流k的90%下降至10%之間的時間稱為下降時間tf。從圖1中可以看出,在IC下降的同時,VCE會產(chǎn)生一個大大超過工作電壓Vcc的峰值,這主要是由負(fù)載電感引起的,其幅度與IGBT的關(guān)斷速度呈線性關(guān)系。峰值電籮過高可能會造成IGBT的損壞。
          關(guān)斷延遲時間,與下降時間tf 之和稱為關(guān)斷時間toff。
          4. 拖尾時間、拖尾電流
          相比于MOSFET,IGBT采用一種新的方式降低了通態(tài)損耗,但是這一設(shè)計同時引發(fā)了拖尾電流It,拖尾電流持續(xù)衰減至關(guān)斷狀態(tài)漏電流的時間稱為拖尾時間tt,拖尾電流嚴(yán)重的影響了關(guān)斷損耗,因為在這段時間里,VCE已經(jīng)上升至工作電壓VCC以上。拖尾電流的產(chǎn)生也告訴我們,即使在柵極給出了關(guān)斷信號,IGBT也不能及時的完全關(guān)斷,這是值得注意的,在設(shè)計驅(qū)動時要保證兩個橋臂的驅(qū)動波形有足夠的死區(qū)。
          IGBT與MOSFET的對比
          輸出特性與轉(zhuǎn)移特性:
          IGBT的伏安特性是指以柵極電壓VGE為參變量時,集電極電流IC與集電極電壓VCE之間的關(guān)系曲線。IGBT的伏安特性與BJT的輸出特性相似,也可分為飽和區(qū)I、放大區(qū)II和擊穿區(qū)III三部分。IGBT作為開關(guān)器件穩(wěn)態(tài)時主要工作在飽和導(dǎo)通區(qū)。IGBT的轉(zhuǎn)移特性是指集電極輸出電流IC與柵極電壓之間的關(guān)系曲線。它與MOSFET的轉(zhuǎn)移特性相同,當(dāng)柵極電壓VGE小于開啟電壓VGE(th)時,IGBT處于關(guān)斷狀態(tài)。在IGBT導(dǎo)通后的大部分集電極電流范圍內(nèi),IC與VGE呈線性關(guān)系。
          IGBT與MOSFET的對比:
          MOSFET全稱功率場效應(yīng)晶體管。它的三個極分別是源極(S)、漏極(D)和柵極(G)。
          主要優(yōu)點:熱穩(wěn)定性好、安全工作區(qū)大。
          缺點:擊穿電壓低,工作電流小。
          IGBT全稱絕緣柵雙極晶體管,是MOSFET和GTR(功率晶管)相結(jié)合的產(chǎn)物。它的三個極分別是集電極(C)、發(fā)射極(E)和柵極(G)。
          特點:擊穿電壓可達(dá)1200V,集電極最大飽和電流已超過1500A。由IGBT作為逆變器件的變頻器的容量達(dá)250kVA以上,工作頻率可達(dá)20kHz。
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