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        6. 多層陶瓷電容器在POL應(yīng)用中的作用解析
          • 發(fā)布時間:2024-09-23 20:54:13
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          多層陶瓷電容器在POL應(yīng)用中的作用解析
          如今電源設(shè)計工程師需要考慮許多設(shè)計方面和優(yōu)先事項。設(shè)計優(yōu)先級往往按以下順序排列:拓撲結(jié)構(gòu)、控制器、FET 開關(guān)、驅(qū)動器(如果是獨立的)、磁性元件、無源功率元件,最后是要使用的多層陶瓷電容器(MLCC)和數(shù)量。只要MLCC可以滿足設(shè)計需求,至少在數(shù)據(jù)表上,MLCC仍然是低優(yōu)先級。雖然,電源轉(zhuǎn)換器中的所有器件都很重要,但是,MLCC在涉及眾多參數(shù)的電源設(shè)計中扮演著多重角色。
          1.什么是多層陶瓷電容器(MLCC)
          MLCC以其小尺寸、高電容密度和低等效串聯(lián)電阻(ESR)和電感(ESL)值而聞名。但是,MLCC供應(yīng)商提供的典型參數(shù)是外殼尺寸、電容和容差、溫度特性和額定電壓。電源設(shè)計人員需要了解有效電容(實際在線電容)、ESR和ESL值、紋波電流(RC)處理和成本。一些電源設(shè)計專門針對給定輸出電容器解決方案的最小電容(C值)以及最大ESR和ESL值。在高瞬態(tài)應(yīng)用中尤其如此。
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          圖1 MLCC等效電路模型
          圖1顯示了MLCC等效電路模型,其中磁滯電阻(Rh)是一個與頻率相關(guān)的值(與所使用的介電材料及其各自的極化延遲有關(guān)),并在ESR-/Z/中反映為變化的ESR值對頻曲線如圖2所示:
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          圖2 ESR-/Z/與頻率
          由溫度引起的電容變化有據(jù)可查,取決于介電材料,并在定義的溫度范圍內(nèi)產(chǎn)生已知的電容變化。然而,影響有效電容的另一個因素是施加的直流電壓,通常稱為“直流偏置效應(yīng)”。隨著施加的DC電壓增加,介電常數(shù)(K)和電容都作為暫時現(xiàn)象下降。此外,隨著施加的交流電壓降低,有效C值也會降低。在紋波電壓控制至關(guān)重要的低壓應(yīng)用中,例如在CPU的Vcore設(shè)計中,這種AC相關(guān)的降低很重要。參見圖3。
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          圖3 DC/AC電壓對MLCC的影響
          MLCC的ESR值取決于許多參數(shù)。關(guān)鍵因素包括:
          ①外殼尺寸
          ②層數(shù)
          ③內(nèi)電極材料、厚度、共面性、密度和長寬比
          ④施加的直流電壓(如電容)
          ⑤頻率
          MLCC的ESL值由外殼尺寸及其內(nèi)部電極的長/寬縱橫比決定。ESL通常是根據(jù)案例大小給出的。此外,外部終端的數(shù)量及其配置也會影響ESL。盡管不存在行業(yè)標準,但紋波電流額定值與I2x ESR損耗導致的特定自身溫升有關(guān),這會產(chǎn)生熱量。因此,紋波電流值取決于頻率和直流電壓,其曲線是ESR曲線的倒數(shù)。典型的MLCC RC與頻率曲線如圖4a所示:
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          圖4a 紋波電流與頻率
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          圖4b 溫升與紋波電流
          這是針對指定的自溫升(ΔT)最大值。最大允許ΔT可能因供應(yīng)商而異。圖4a將ΔT列為+20℃,這對于額定高達+85℃或+125℃的電容器來說非常保守。在較低的環(huán)境溫度下,MLCC可以承受更高的紋波電流,但仍能滿足額定溫度( T操作= T環(huán)境+ ΔT)。在此示例中,MLCC紋波電流能力范圍為0.25A (1000 Hz) 至2.25A (1MHz)。為了設(shè)計合適的輸出電容器解決方案,必須擁有準確的電容器頻率相關(guān)信息。此外,MLCC供應(yīng)商可能會提供RC與溫升的關(guān)系,但必須指定生成曲線的頻率。這方面的一個例子如圖4b所示。
          2.MLCC在POL中的作用
          2.1低通輸出濾波器(有時稱為RF輸出濾波器)
          在降壓轉(zhuǎn)換器中,輸出電感器(L)的值與等效輸出電容器C值一起形成低通濾波器(LPF)。該濾波器的頻率響應(yīng)具有轉(zhuǎn)角頻率fc,位于:
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          它用于去除轉(zhuǎn)換器的基本開關(guān)頻率(Fsw)及其后續(xù)諧波,還用于將任何交流成分和開關(guān)瞬變與流向輸出負載的所需直流電流去耦。這還包括幫助平滑輸出電感器的三角電流波形。為了獲得適當?shù)男阅埽屯V波器的轉(zhuǎn)角頻率需要遠低于Fsw。因此,需要考慮輸出MLCC的C值、其在各種條件下的容差和穩(wěn)定性,包括直流偏置效應(yīng)。
          2.2紋波電壓抑制(平滑)
          紋波電壓(假設(shè)負載為穩(wěn)態(tài))是降壓轉(zhuǎn)換器導通和關(guān)斷期間負載和輸出電容器兩端的輸出電壓差。在導通期間,通過電感器提供AC+DC電流,AC電流流入輸出電容器進行充電(達到某個最大電壓電平),DC電流流向負載。
          在關(guān)閉周期期間,能量開始從輸出電感器流失(通過磁場的衰減),因為沒有輸入電流被提供,輸出電容器成為次級(如果處于連續(xù)傳導模式,CCM)或唯一的能源(如果處于非連續(xù)導通模式,則為 DCM)。當存儲的能量為E =1/2CV2時,輸出電容器向負載提供電流,并且隨著能量從電容器中排出,電壓電平開始下降(又名電壓下降或Vdroop)在關(guān)閉周期的剩余時間。壓降量取決于負載電流、輸出電感值、關(guān)斷時間和總C值(較高 = 更好的抑制)和ESR值(越低越好,因為這會降低內(nèi)部電壓降V=I x R)和輸出電容器的ESL(更低= 更快響應(yīng))。設(shè)計人員需要了解每個MLCC的每一個,以便確定系統(tǒng)C、ESL和ESR值。用于計算最小C值的許多等式之一是:
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          其中I紋波是允許的紋波電流,Vripple是允許的紋波電壓。更高的Cout值意味著更高的成本。
          2.3紋波電流處理
          紋波電流是在導通周期(流入電容器)和關(guān)斷周期(流出電容器)期間流入和流出輸出電容器的電流之差。由于I2 x ESR功率損耗,內(nèi)部變化的電容器交流電流會導致自身溫度升高。為了適應(yīng)更高的紋波電流,設(shè)計人員需要使用更低ESR的電容器(即更高電容或?qū)S肕LCC)或使用更多的現(xiàn)有電容器,這也減少了任何電容器的電流量。如果沒有設(shè)計足夠的紋波電流處理能力,根據(jù)溫度升高的程度、環(huán)境溫度和持續(xù)時間,可能會發(fā)生潛在的MLCC故障。
          對于許多降壓轉(zhuǎn)換器應(yīng)用,輸出電容器選擇的控制因素是紋波電流處理能力。因此,MLCC的關(guān)鍵參數(shù)是ESR(最大值)值和紋波電流(最小值)額定值。
          2.4儲能
          如前所述,存儲在電容器中的能量為E=1/2CV2。C值越大,存儲的能量越多。但設(shè)計人員需要將能量存儲需求與尺寸、重量、數(shù)量、電路板空間、頻率響應(yīng)、產(chǎn)品壽命(老化效應(yīng))和成本權(quán)衡進行比較。紋波電壓、紋波電流、壓降、系統(tǒng)ESR值和每個電容器的紋波電流處理能力都會影響所需的C值,從而影響輸出電容器的能量存儲。就電壓和電容而言,能量存儲決定了在關(guān)閉周期或斷電情況下的“保持”時間有多長。對于此關(guān)鍵功能,C值、容差、溫度和DC偏置效應(yīng)是關(guān)鍵的MLCC參數(shù)。
          2.5瞬態(tài)響應(yīng)
          在電力電子的復雜現(xiàn)實世界中,負載可能會發(fā)生變化并具有相當于每微秒數(shù)百安培(di/dt)或更高(例如:服務(wù)器CPU)的負載升壓(即負載增加)。對于這些情況,轉(zhuǎn)換器(或電壓調(diào)節(jié)器,VR)無法響應(yīng),因為它需要等待某個反饋信號通知它存在負載變化。同樣,通過輸出電感器的電流不能立即改變,因此不能足夠快地做出反應(yīng),因為它需要在能夠提供負載所需的額外電流之前建立其磁場。能夠滿足這些極端要求的唯一能源是配電網(wǎng)絡(luò)(PDN) 中的輸出電容器。
          由于其低ESR和ESL值,MLCC是少數(shù)可以在高di/dt事件期間提供所需性能的電容器技術(shù)之一。然而,標準配置的MLCC仍然無法在最嚴格的應(yīng)用中提供所需的性能。電容器的內(nèi)部ESL必須首先“飽和”,即在能夠開始響應(yīng)負載變化之前建立抑制電流流動的小磁場(H)。因此,像反向幾何電容器這樣的特殊電容器,其終端放置在MLCC側(cè)或具有特殊內(nèi)部電極配置和多終端的MLCC,可顯著降低ESR和ESL。
          在MLCC能夠?qū)ω撦d變化做出反應(yīng)之前,如果輸出電容器無法在足夠長的時間內(nèi)提供負載電流,直到其他能源可用,系統(tǒng)電壓電平將開始下降并可能降至臨界最低電平以下(例如CPU的Vcc容差)也開始反應(yīng)。低ESR/ESL MLCC是最小化電壓下降的第一道防線,但可能沒有足夠的大容量能量存儲來完全獨立完成。
          在瞬態(tài)事件期間,MLCC響應(yīng)首先受到其ESL的限制,其最初禁止電流流出(最接近負載的)電容器。下一階段的響應(yīng)由ESL和ESR主導,并涉及下一組電容器。第三階段取決于ESR和C值,涉及大容量存儲電容器,最后,其他存儲設(shè)備發(fā)生恢復,VR開始提供更多電流。輸出電容器內(nèi)電壓下降的其它者的基本公式為:
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          其中:(等式3是高頻瞬變);
          對于圖5a中的多電容器技術(shù)解決方案的模擬響應(yīng),對于圖5b中所示的PDN網(wǎng)絡(luò):
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          圖5a 瞬態(tài)期間的電壓降
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          圖5b PDN的高di/dt電容方案
          在瞬態(tài)響應(yīng)場景中,ESL 至關(guān)重要,MLCC 供應(yīng)商繼續(xù)努力尋求更低的解決方案。設(shè)計人員將每種輸出電容器技術(shù)的最大值作為目標,并減少 PCB 布局雜散電感。另一個關(guān)鍵參數(shù)是 ESR,通常重點是最小化該值以滿足最大目標。最后,需要電容值及其大量能量存儲來提供能量,直到轉(zhuǎn)換器的控制回路可以響應(yīng)并且轉(zhuǎn)換器開始向負載提供能量并對 PDN 中的電容器充電。在這里,設(shè)計人員通常需要針對每種電容器技術(shù)的系統(tǒng)最小值。
          2.6拋負載
          另一個極端情況是負載(能量)傾倒,當電流需求突然減少(負載降壓)時也會發(fā)生這種情況。例如當CPU進入空閑模式時。在這里,在高負載電流需求期間,磁性元件被儲存的能量(E = 1/2LI2) 飽和。當?shù)诫娫吹呢撦d路徑不再存在時,唯一剩下的電流出口是通過輸出電容器。因此,設(shè)計工程師需要考慮電感值的權(quán)衡。值太小會導致紋波過多,而值太高可能會存儲太多能量,需要額外的輸出電容器來處理負載突降。
          流向電容器的電流增加會產(chǎn)生更高的功率損耗(Ploss = I2 x ESR),并且可能會導致熱問題,就像上面提到的高紋波電流一樣。此外,隨著流入電容器的電流增加,現(xiàn)在可能會出現(xiàn)過大的電壓尖峰。因此,設(shè)計人員需要平衡電感值及其存儲能量與輸出電容及其能量存儲能力,并確保有足夠的電容、足夠低的ESR來處理電感釋放的能量。
          2.7瞬態(tài)電壓尖峰抑制
          如上所述,瞬態(tài)事件可以是負載升高或負載降低。由于輸出電感電流的壓擺率增加快于減少(當Vin>Vout時),因此降壓期間的瞬態(tài)更為關(guān)鍵。在降壓變化期間,就像負載突降一樣,電感電流不再 100% 流向負載,因為其需求已大幅下降。因此,大部分電流現(xiàn)在必須流經(jīng)輸出電容器,因為:
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          其中IL是電感電流,IO是輸出負載電流,IC是通過電容器的電流。如圖6所示:
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          圖6 負載降壓期間的負載、電感器、電容器電流
          此外,就在降壓瞬態(tài)事件之前,如果處于恒定的高負載,輸出電容器的電壓將處于或接近其最大值。因此,由于內(nèi)部ESR和ESL兩端的大電流流經(jīng)電容器,因此預先存在的電容器電壓和電壓降會在瞬態(tài)期間在電容器和負載兩端引入電壓尖峰。降壓瞬變期間的輸出電壓波形可以計算為:
          陶瓷電容器在POL應(yīng)用
          哪些是之前給出的組合V下降方程,但電流現(xiàn)在流入輸出電容器并導致電壓增加?從微觀層面來看,反應(yīng)較慢的電感器電流IL無法滿足快速變化的負載電流IO需求,因此IC會通過輸出電容器的 ESR C及其ESL C。預先存在的電容器電荷以及ESR C和ESL C電壓都從瞬態(tài)期間產(chǎn)生的輸出電壓尖峰下降。該電壓尖峰然后持續(xù)到能量從輸出電感器IL耗盡 并且電壓調(diào)節(jié)器現(xiàn)在已經(jīng)自我調(diào)整以提供減少的電流。
          CPU和VR等智能系統(tǒng)包含自適應(yīng)電壓定位(AVP) 等功能,有助于減少敏感應(yīng)用中瞬態(tài)電壓尖峰的影響,但大部分負擔仍落在輸出電容器上,因此,它們的ESR和ESL值對于最小化瞬態(tài)電壓尖峰的峰值至關(guān)重要。這些值越低,電壓尖峰峰值越低。
          以上就是多層陶瓷電容器在POL應(yīng)用中的作用介紹了。此外多層陶瓷電容器還具有控制回路補償和穩(wěn)定性、相位和置零、EMI 抑制和負載旁路、負載線阻抗匹配、負載噪聲過濾以及效率提升等作用。而且在設(shè)計完成之前,需要對每個功能和相應(yīng)的電容器解決方案進行計算、建模、仿真和測試。
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